(12)发明专利申请
(21)申请号 CN201510567725.3 (22)申请日 2015.09.08
(71)申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号
(10)申请公布号 CN106502042A
(43)申请公布日 2017.03.15
(72)发明人 张士健;郁志芳;刘丽;戴文旗;徐佳明
(74)专利代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 屈蘅
(51)Int.CI
G03F1/36;
权利要求说明书 说明书 幅图
(54)发明名称
掩膜版的版图修正方法、掩膜版及其制造方法
(57)摘要
本发明揭示了一种掩膜版的版图修正方
法、掩膜版及其制造方法。本发明提供的掩膜版的版图修正方法,包括提供前端版图,所述前端版图中存在非零图形密度的第一单元;对所述前端版图进行检查,若所述前端版图中存在图形密度为零的第二单元,则对所述第二单元添加SRAF图形,所述SRAF图形小于的光刻设备的分辨率。与现有技术相比,添加SRAF图形后,能够使得各
个单元的图形密度变得接近。那么由此进一步获得的掩膜版,能够使得光罩整体的图形密度变得均匀,提高了光罩的合格率,基本上避免了报废。
法律状态
法律状态公告日
2017-03-15 2017-04-12
法律状态信息
公开
实质审查的生效
法律状态
公开
实质审查的生效
权利要求说明书
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说明书
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