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半导体封装元件及其制造方法[发明专利]

来源:爱问旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:半导体封装元件及其制造方法专利类型:发明专利

发明人:周辉星,王志坚,拉扎克·B·奇奇克申请号:CN201010232699.6申请日:20071214公开号:CN101924090A公开日:20101222

摘要:本发明提供一种半导体封装元件及其制造方法。该封装元件,设有第一绝缘层,且设有多个孔洞于该第一绝缘层的第一表面上。此外,还设有多个封装导线,嵌设于该绝缘层中,与所述孔洞的另一端连接。多个孔洞可作为焊球连结封装导线的定位,使得半导体晶片的信号,可以藉由该晶片的导体单元,连至所述封装导线,并且经由焊球向外传输信号。而该第一绝缘层的材料以具有弹性模量大于1.0GPa的特性为宜。

申请人:先进封装技术私人有限公司

地址:新加坡新加坡

国籍:SG

代理机构:北京市柳沈律师事务所

代理人:邱军

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