一种深度测量装置和深度测量方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种深度测量装置和深度测量方法专利类型：发明专利发明人：曾海,王兆民

申请号：CN201911310823.3申请日：20191218公开号：CN1109917A公开日：20200403

摘要：一种深度测量装置和方法，该装置包括：发射模组，其包含由多个子光源组成的光源阵列，以具有多个斑点的投影图案提供输出光来照射目标物体；采集模组，其检测包括所述输出光经所述目标物体反射回的至少一部分反射光；控制与处理电路，被配置为根据所述输出光和所述反射光的相位差获取所述目标物体的距离；其中，所述光源阵列包含多个分立的子光源阵列，各子光源阵列被配置为可控制开启或者同步开启以使得所述发射模组提供不同视场角和/或不同斑点密度的投影图案。本发明可以灵活适应各种深度测量应用下对目标物体的测量需求，并降低测量装置的功耗。

申请人：深圳奥比中光科技有限公司

地址：518000 广东省深圳市南山区学府路63号高新区联合总部大厦12楼

国籍：CN

代理机构：深圳新创友知识产权代理有限公司

代理人：王震宇

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