专利名称：荧光X射线分析装置专利类型：发明专利
发明人：片冈由行,河野久征,山下升,堂井真申请号：CN200680054176.9申请日：20061124公开号：CN101416047A公开日：20090422
摘要：一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置，其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值，提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1)，其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件，对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器进行检测，由此，对试样(S)进行分析，该装置包括X射线管(11)，该X射线管(11)具有含铬的靶；X射线滤波器(13)，其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路，相对来自X射线管(11)的Cr－Kα射线，具有规定的透射率，采用在S－Kα射线和Cr－Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质；比例计数管(18)，其具有含氖气或氦气的检测器气体，该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。
申请人：理学电机工业株式会社
地址：日本国大阪府
国籍：JP
代理机构：北京三幸商标专利事务所
代理人：刘激扬
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容