专利名称：低频噪声测试系统和可靠性测试方法专利类型：发明专利
发明人：余永涛,罗宏伟,王小强,罗军申请号：CN202011300010.9申请日：20201119公开号：CN112698121A公开日：20210423
摘要：本发明涉及电子元器件的可靠性评估技术领域，公开了一种低频噪声测试系统和可靠性测试方法，包括偏置电路，偏置电路中连接有被测器件，用于对被测器件进行噪声电压时间序列测试和噪声电压功率谱密度测试，以获取被测器件的时域噪声数据和频域噪声数据；分析设备，与偏置电路相连接，用于根据时域噪声数据和频域噪声数据进行数据处理及统计分析，并根据分析结果对被测器件进行可靠性评估。由于低频噪声是表征器件质量和可靠性的敏感参数，因而通过测试分析被测器件的低频噪声特性，即可对被测器件的器件可靠性进行评估。低频噪声测试条件与被测器件的电参数测试条件类似，因而对器件无破坏性，同时测试速度快、测试时间短。
申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
地址：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：郭凤杰
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